2021fall_Advanced Instrumental Analysis_MS Program in Chemical Engineering 1 A
Course Period：Now ~ Any Time
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Course Intro
Course Plan
教學目標：
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儀器分析緒論
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光譜學原理
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紫外可見光吸收光譜法
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紅外光吸收光譜法
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螢光光譜法
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原子吸收光譜法
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X射線法
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色層分析法
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熱分析
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核磁共振光譜
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1937年諾貝爾物理獎的關鍵影響
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AFM-SEM
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NMR
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XPS(ESCA)
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掃描式電子顯微鏡
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感應耦合電漿發射光譜儀(ICP-OES)ndefined
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壓汞儀(MIP)
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原子力顯微鏡(AFM)
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X射線螢光儀(XRF)
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Scherrer Formula
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ICP-MS材料分析
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AFM(p1)-SEM(p70)
Teacher / 吳紹榮
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