2025fall_Nano-Characterization_Department of Materials Engineering 4 A
Course Period:2025-09-01 ~ 2026-01-11
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Course Intro
Course Plan
教學目標:在奈米科技的製造、操控、量測、應用四大主軸中,本課程著重在奈米檢測。首先以實務的真空技術、質譜技術、內層電子能譜辨識、薄膜光學理論應用、以及半導體接面特性,奠基奈米科技的檢測基礎學理;透過奈米檢測設備介紹與結構、成份、功能特性的分析技術學習,幫助學生對奈米材料特殊性質的操控及產業應用機會的認識,同時藉由複層光學薄膜與薄膜半導體接面的專題檢測分析,進行更深入的設計應用探討。
Textbooks
上課講義, 奈米檢測分析-2024
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課程簡介-奈米檢測分析
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(Introduction) 奈米檢測分析-課程介紹
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chap-1 (I) 真空技術-I
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chap-1 (II) 真空技術-II
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chap-1 (III) 真空技術-III
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chap-2 質譜技術
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chap-7 離子束檢測設備
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奈米檢測分析-期中作業
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奈米檢測分析-期中考-參考答案
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chap-8 X光束檢測設備
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chap-4 (I) 薄膜光學-光波_複數折射率_偏振
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chap-4 (II) 薄膜光學-非同調性與同調性
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chap-4 (III) 薄膜光學-複層光學薄膜設計(I)
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chap-4 (IV) 薄膜光學-複層光學薄膜設計(II)
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chap-3 內層電子能譜
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chap-9 電子束檢測設備
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chap-5 (I) 電子能帶
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chap-10 掃描探針檢測設備-I
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chap-11 掃描探針檢測設備-II
Teacher / 盧榮宏